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貼片電容為什么要進行老化處理

來源:貼片電容 發布時間:2017-07-31 瀏覽:2039

關于貼片電容老化說明

       貼片電容器容量老化說明:貼片電容器的容量隨時間以對數規律降低(之稱之為老化)。然而,如果貼片電容器發熱溫度高于其介質的居里點時,此時產生“去老化”現象,即通過老化發生的容量降低重新恢復,當電容器恢復冷卻時,老化又隨時間產生。

       貼片電容器去老化條件:將貼片電容器放在上限類別溫度或按詳細規范中可能規定的更高溫度(150℃)下經1h 后,接著在試驗的標準大氣條件下恢復24±1h。

根據各類材質隨時間衰減系數見以下曲線圖:

 

貼片電容測試條件:

項目

Item

技術規格

Technical Specification

測試方法

Test Method Remarks

容量

Capacitance

Ⅰ類 Class

(COG/NPO)

應符合指定的誤差級別

Should be within the specified toleance

標稱容量

Capacitance

測試頻率

Measuring Frequency

測試電壓

Measuring Voltage

1000PF

1MHz±10%

1.0V±0.2V

>1000PF

1KHz±10%

1.0V±0.2V

Ⅱ類 Class

應符合指定的誤差級別

Should be within the specified toleance

C10uF     測試頻率:1KHz±10%      1.0V±0.2V

Test Frequency: 1KHz±10% Test Voltage: 1.0V±0.2V

C>10uF      

X7R X5R Y5V 測試頻率:120Hz±24Hz     0.5V±0.05V

Test Frequency: 120Hz±24Hz Test Voltage: 0.5V±0.05V

測試溫濕度:25±5 50%-70%

 

此文關鍵詞:貼片電容|貼片電容老化|貼片電容老化測試方法
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