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關于三星高容貼片電容容量偏低說明

來源:貼片電容 發布時間:2018-10-25 瀏覽:2232

  關于三星高容貼片電容容量偏低說明


  如果是 NP0的。這種材料沒有衰減,那么容量偏低,如果測試條件(頻率、電壓)選擇正確,就是產品問題。


  如果是X7R X5R Y5V Z5U,是有老化特性的,由于產品時間長放置容量會衰減,但是這種過程是可逆的,當我們在給產品加熱到一定程度后(通過居里點30分,不包括加熱過程時間和冷卻時間),然后冷卻大概12~24小時,測試才準確。如果還低,那得考慮是不是產品本身的問題了。



 

  容樂電子有送過一批三星貼片電容至客戶處測試,發現幾個高容產品的型號容量偏低,高容貼片電容型號容量為什么會偏低,下面小編為大家分析一下:


  首先,三星貼片電容送樣容量偏低的型號如下:

  C 0805 X5R 22UF M 10V 15pcs

  C 0805 X5R 10UF K 10V 15PCS

  C 0805 X5R 4.7UF K 25V 15PCS

  C 0805 X7R 2.2UF K 16V 15PCS

  C 0805 X5R 10UF K 16V 15PCS

  C 0603 X7R 4.7UF K 16V 15PCS

  C 1206 X5R 10UF K 16V 15PCS

  看過客戶的測試報告,客戶的測試要求跟條件都是符合的,那為什么測試出容值NG呢?我們需要了解一些專業的知識,MLCC Ceramic 材料分為ClassI(CaTiO3 材料C0G,NPO等)與ClassII( BaTiO3材料X5R,X7R,Y5V等)BaTiO3材質MLCC的電容量隨時間而減小,這一特性稱之為電容老化。


  電容老化是具有自發性極化現象的鐵電陶瓷獨有的現象,是不可避免的自然現象。

  當陶瓷電容器加熱到居里點(大約為150℃)以上的溫度時,晶體結構發生改變,自發性極化消失, 并使之處于無載荷狀態。直到冷卻至居里點以下,隨著時間的流逝,逆轉自發性極化變得越來越困難,結果,所測的電容值會隨著時間而減小。


  當在居里點以下溫度時BaTiO3的晶體結構發生偏移, 導致正、負電荷的生點發生偏差,造成極化現象。


  什么是de-aging?如何實現de-aging?

  老化是一種可逆的現象,當對老化的材料加以高于居里溫度的高溫,材料的分子結構將會回到 原始狀態。材料將由此開始老化的又一個循環。


  貼片電容廠家建議進行de-aging所使用之條件為150℃+0/-10 ℃ /1hour。即可以將產品回到原始之正常規格之內。


  是否只有三星的MLCC產品有老化現象?

  回答是否定的。老化現象發生在任何一家廠商的ClassⅡ(BaTiO3)類陶瓷電容器。它是普遍的自然現象。如果有遇到此類問題可以聯系容樂電子進行技術分析。

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